介电常数介质损耗测试仪是一种高速度、测试范围宽、6位测试分辨率的阻抗测量仪，可满足生产线检验及实验室测量要求。
发布时间2023-10-10 浏览次数：471
介电常数介质损耗测试仪 阻抗测量仪 型号：HAD-ZJD-E
一、简要介绍
介电常数介测试仪是一款用于多种电子元器件进行检验的多功能元件测试仪。其采用当前流行的7寸800
二、性能特点
四参数显示，任意参数组合，多达12种测量参数;
7英寸16：9 TFT LCD显示器，分辨率800
0.05%的基本测量准确度，测试速度快（200次/秒）;
20Hz-1MHz测试频率，分辨率10mHz;
高达200次/s的测量速度;
测试电压或电流的自动电平控制ALC功能;
30 Ω , 100 Ω , 50Ω , 10/CC 四种不同信号源输出阻抗;
内建比较器，10 档分选及档计数功能;
频响曲线绘图分析功能;
10 点列表扫描功能;
内部-5V~+5V 直流偏置电压源;
可选±10V(±100mA）及1 A内部直流偏置源;
内部100组设定文件保存或调用，U盘500组测试文件保存或调用;
可通过USB HOST来实现仪器软件版本的升级和新;
U盘可支持格式FAT16，FAT32文件系统;
标配RS232C、HANDLER、USB HOST，耳机接口，可选GPIB、LAN接口;
三、技术指标
操作温度、湿度 0℃-40℃ , 90%RH
电源要求 电压 99V-121V 198V-242V
频率 47.5Hz-63Hz
功耗 ≤80VA
体积（W*H*D) 398mm×129mm×370mm
重量 约 9kg
四、技术参数
测量功能 测试参数 |Z|， |Y| , C， L，X，B，R，G，D，Q， θ , DCR
基本测量准确度 0.05%
等效电路 串联，并联
数学功能 值偏差，百分比偏差
量程方式 自动，保持，手动选择
触发方式 内部，手动，外部，总线
测量速度(≥1kHz） 快速： 75 次/秒（快）
中速：50 次/秒
慢速：5 次/秒
平均次数 1—255
延时时间 0—60s，以 1ms 步进
校准功能 开路 / 短路 / 负载
测试端配置 五端
列表扫描 10 点列表扫描功能
显示方式 直读， Δ , Δ%，V/I（被测电压/电流监视）
显示器 6 位分辨率，800×480 RGB7 英寸 16: 9 TFT LCD 显示器
测试信号 测试信号频率 20Hz－1MHz，10mHz 分辨率
输出阻抗 30Ω , 100Ω , 50Ω , 10 / CC 可选择
测试信号电平 正常：5 mV－2V
准确度：10%，1 mV 步进
恒电平：10 mV－1 V 准确度：5%，1mV 步进
显示范围 |Z|, R, X 0.01m Ω — 99.9999 MΩ
DCR 1 mΩ — 99.9999 MΩ
|Y|, G, B 0.00001µS — 99.9999 S
C 0.00001 pF — 9.9999 F
L 0.00001 µH — 9999.99 H
D 0.00001 — 9.9999
Q 0.00001 — 9999.9
θ （DEG） -179.999 °— 179.999 °
θ （RAD） -3.14159 — 3.14159
其他 比较器功能 十档：（九档合格，一档不合格），另有一个附属档 AUX
存储器 100 组内部仪器设定供存储/调用
接口 RS-232C，HANDLER， GPIB （选件），LAN（选件），USBTMC，USBCDC