薄片自动测厚仪H1CHY-CA_其他专用仪器仪表

产品展示

您当前的位置：首页 » 产品展示 » 其他专用仪器仪表 » 薄片自动测厚仪H1CHY-CA

产品名称：	薄片自动测厚仪H1CHY-CA
产品型号：	H1CHY-CA
品牌：	84
产品数量：
产品单价：	面议
日期:	2024-01-25

薄片自动测厚仪H1CHY-CA的详细资料

1.薄膜厚度测试仪塑料薄膜/薄片自动测厚仪 型号：H1CHY-CA

适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量

薄膜厚度测试仪器特　　征
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
自动样
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计
显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
可设样步距、测量点数、样速度等参数
标准接触面积、测量压力（非标可选）
显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
标准量块标定
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
薄膜厚度测试仪器术标
测量范围：0～2mm；0～6mm，12mm（可选）
分辨率：0.1μm
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张选种；非标可定制
样步距：0～1000mm
样速度：0.1～99.9mm/s
电　　源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
净　　重：32kg
薄膜厚度测试仪器标　　准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜厚度测试仪器配　　置
标准配置：主机、标准量块件
选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码

2. 织物摩擦式静电测试仪型号：QS-M402

主要用途

在试验室条件下，用于评定以摩擦形式带电后的织物或纱线及其它材料的静电特性

仪器特征

1、随机显示峰值电压，半衰期电压及时间

2、峰值电压自动锁定

3、自动测量半衰期时间

术标

1、静电电压测试范围：0～10KV，度：≤±1％

2、试样回转线速度为：190±10m／min，摩擦所加压力为：500CN

3、摩擦时间：0.1～59.9秒可调

4、半衰期时间范围：0.1S～9999.9S

5、试样尺寸：50×80mm2六块，摩料：200×25mm2

6、主机外形尺寸：45mm×215mm×260mm

7、电控箱外形尺寸：450mm×256mm×185mm

8、作电源：AC220V±10％ 50Hz 200w

9、重量：约50kg

适用标准

GB/T12703--1991《纺织品静电测试方法〉中的B法

FZ/T01061--1999《纺织摩擦起电电压测试方法》

3.二氧化硅测定仪/二氧化硅检测仪型号： HA-HI96770

产品介绍
HI96770 具有自动校准和GLP能，测量水样二氧化硅(SiO2)，测量范围0-200mg/L。
仪器具有CAL CHECK 能，选购专用NIST标准液可以随时校验仪器的性能确定是否需要再次校准。便捷人性化的确认操作可以仪器的良好校准。特有的定位标识设计比色皿每次放入比色槽的位置致性。比色皿较大直径设计便于加入样品和试剂。仪器均经过出厂校准，优良的光学系统设计使仪器不频繁校准。测量结果，简单操作步骤，佳防水性能和光源防尘测量系统，使其具有广泛的实验室，现场测量适用性。提示信息可以导行日常操作，并且仪器具有低电量示能和自动关机能。

READ/TIMER function
能，可以确保反应时间的致性，避免因不同用户操作而产生反应时间的差别。
Calibration Date on Display
仪器经过校准，将自动新数据，可随时查阅校准信息，符合ISO和GLP实验室管理要求。

•人性化显示界面，操作简单，双行易读LCD显示屏
•优良防水性能，同时适用于实验室和现场使用
•具有用户校准能，选购校正组可行校准
•EPA标准，GLP管理能，自动关机节电模式

二氧化硅微电脑测定仪-HI96770性能检查
当行测量前,需要确定仪器性能是否正常,是否需要校准,HANNA特有的CAL CHECK™性能核查能,只需选购对应的校准组,即可快捷检验仪器性能及

订货信息:HI 96770 主机，HI96770-01二氧化硅试剂、HI731333玻璃比色皿×2、HI731318玻璃比色皿清洗布、中英文使用手册、携带箱

订货信息:HI 96770 C主机，HI96770-01二氧化硅试剂、HI95770-11二氧化硅标准校准组、HI731333玻璃比色皿×2、HI731318玻璃比色皿清洗布、中英文使用手册、携带箱

二氧化硅微电脑测定仪-HI96770产品参数

型号	HI 96770
量程	0 to 200 mg/L SiO₂
解析度	1mg/L
度	±5mg/L @ 100mg/L
光学系统	LED光源@ 610 nm，硅光电池检光器
校准能	CAL CHECK单点自动校准能
供电方式	1 x 9V电池
使用环境	0 to 50°C(32 to 122°F)；RH max 95%无冷凝
尺寸重量	192 x 102 x 67 mm；290 g
测量方法	参照USEPA METHOD 370.1（适用于饮用水，海水，市和业废水）和Standard Method 4500-SiO2 C标准方法。

温馨提示：以上发布的产品资料和图片都是按顺序相对应的