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产品名称: 涂镀层测厚仪LY-LYT-2002
产品型号: LY-LYT-2002
品牌: 84
产品数量:
产品单价: 面议
日期: 2023-12-19

涂镀层测厚仪LY-LYT-2002的详细资料

 1.LY-LYT-2002型  涂(镀)层测厚仪
是新术的结晶,它采用单片机术,度、数字显示、示值稳定、耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压示、系统/零点/两点校准,其性能达到当代仪器的水平。
二、应用范围:
本仪器采用磁性测厚法,可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、船、石油、化、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。
三、作原理 :
LYT-2002型涂(镀)层测厚仪采用电磁感应法测量涂(镀)层的厚度。位于件表面的探头产生个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂(镀)层厚度。
四、术 参数
1、测量范围 :  0~5000um
2、测量误差:  <3%±1um
3、zui小示值:  1um
4、显示方式 :    4位液晶数字显示
5、主要能:
   (1).测量:      单探头量程测厚
   (2).存储、删除: 可存入测量数据254个,对测量中的单个可疑数据行删除,也可以删除存储区内的所有数据。
   (3).读:  读出已存入的测量数据
   (4).统计: 设有三个统计量,平均值zui大值zui小值
   (5).校准: 可行零点校准、两点校准及系统校准
   (6).电量: 具有欠压显示能
   (7).蜂鸣提示:操作过程中有蜂鸣提示
   (8).打印:可打印测量值,选配微型打印机
   (9).关机:具有自动关机和手动关机两种方法
6、电源:         两节1.5v电池
7、耗:         zui大耗100mw
8、外形尽寸:     50mm*121mm*24mm
9、重量:      90g
10、使用环境温度: 0℃~+40℃  相对湿度:不大于90%
11、基体zui小厚度:     0.2mm
12、基体zui小平面:     7mm
13、zui小曲率半径:     凸:1.5mm      凹:6mm
14、欠电压示:       右上角显示" "
*临界厚度小:件铁基厚度大于1mm时,其涂(镀)层厚度的测量不受铁基厚度影响. 
附     装箱单   
 、涂层测厚仪主机(LYT-2002)             台
二、1.5V电池(7号)                                  二节
三、探头                                                     支
四、标准样片                                              盒
五、钢锉                                                    把
六、小铝箱                                                个
七、说明书、合格证                                  套








2.(科学)快速光谱辐射计 型号:HYD-HAAS-2000

产品简介:
HYD-HAAS-2000采用的平场凹面衍射光栅和科学CCD,可同时实现毫秒的测量速度和实验室的测量度。同时远方的带通色轮校正术(BWCT)和分光-积分结合术(SBCT),均使HYD-HAAS-2000的线性动态范围和杂散光处理水平处于水平。
 

1.HYD-HAAS-2000原理简述:
快速光谱辐射计般由凹面平均衍射光栅和科学CCD构成,上也只有少数制商能够提供如此的CCD和光栅。然而实践证明即便是的商用凹面平场衍射光栅和的商用科学CCD,在系统光学耦合匹配方面仍存在定不足,远方公司在快速光谱仪方面积累了丰富经验,改良了CCD与光栅的匹配设计,使整个系统的光学匹配趋,系统所获得的光谱纯,线性好。此外,远方公司采用特的杂散光控制术、宽动态线性术、CCD电子驱动术和复变矩阵软件术,并成应用了带通色轮校正术(BWCT)、分光积分结合术(SBCT),以及修正的NIST杂散光校正术等多项,整个系统实现了前所未有的5.00E-05的低杂散光水平(在A光源严格条件下)和0.3%的动态光度线性性能。关键术标在处地位。

2. 术特性:
(1) 可测<1μs的快闪光谱
(2) 0.3%的光度线性
(3) 到达0.01mcd的灵敏度
(4) 0.0015 x, y 的色坐标度
(5) 5.00E-05的低杂散光水平
(6)覆盖200nm~2550nm的宽光谱范围

3.HYD-HAAS-2000的性能
(1) 低杂散光: 通过的平场凹面光栅和LVF及BWCT术的应用,HYD-HAAS-2000的杂散光是原有光谱仪的十分之。
(2)宽线性动态测量范围:SBCT术大大提了HAAS-2000的线性动态范围,此外,与普通CCD相比,HYD-HAAS-2000中所使用的科学灵敏度CCD也很大地拓宽了线性动态范围。
(3) 快速:毫秒测量速度,HYD-HAAS-2000科学快速光谱辐射计采用科学探测器代替机械扫描系统,可以在实现短的测量时间,测量整个光谱范围。
(4):HYD-HAAS-2000专为应用场合设计,采用的科学制冷型的阵列探测器和平场凹面光栅,配备的光学系统和电子线路设计,整个系统可以实现分辨率、灵敏度、低噪声、低杂散光和宽动态范围已达到测量的目的。
(5) 重复性和稳定性:仪器没有机械运动的扫描机构,会产生影响的温度因素也被恒温制冷术控制到了±0.05℃的水平,测量的重复性和稳定性。
(6)小巧:由于不含机械扫描装置,HYD-HAAS-2000设计巧,无机械磨损,相对寿命长,性。HYD-HAAS-2000设计轻巧,非常适合需要手提的应用场合。
(7)NIM和NIST 溯源:仪器直接由美NIST和计量院传递标准,量值度。
(8)光纤输入:采用光纤输入端,配置合适的光纤适配器以及相关附件后可以灵活的实现多种测量方案,这种灵活性使得HYD-HAAS-2000不仅应用在实验室和研究场合也可应用在质量控制和生产线上;
(9)测量附件:广泛的可选附件为HYD-HAAS-2000的应用提供了方便。 这些附件通过适配器与光纤相连。应用域包括普通电光源、LED、LCD显示屏等的光谱辐射度和光度测量和光谱反射/投射测量。几乎所有的附件都由远方公司生产制,所以不存在不兼容的问题。
(10) 灵敏度:采用平场凹面光栅和HYD-HAMAMATSU TE-制冷背射式CCD,使得仪器的灵敏度,关于HYD-HAAS-2000的关键件CCD,下文将作步阐述。
(11)关键件:背射式CCD。







3.卧式分布光度计 分布光度计 型号;HYD-GO1900

HYD-GO1900分布光度计与HYD-GO-R3000/HYD-GO-CS/HYD-GO-R100立式分布光度计不同,无反射镜,又称卧式分布光度计。广泛应用于道路灯、室内灯、投光灯、舞台灯、矿灯、汽车灯、LED灯等各种灯具的配光性能(配光曲线)的配光测量,也可以实现各种光源和灯具的总光通量、光效、效率测量。可直接实现CIE B-β,CIE C-γ 测量方案。测试结果可直接作为通用的照明设计软件的输入数据,符合CIE、IESNA等标准要求。
 

1.HYD-GO1900 卧式分布式光度计原理:
HYD-GO1900分布光度计测灯具配光性能是通过转动被测光源或灯具,保持探测器相对静止来行测试的。被测光源或灯具和光度探头水平布置,用光度计测出距离灯具光度中心R处的照度E,再乘以距离R的平方就可以得到灯具在某个方向上的发光强度I。

2.术特性:
卧式分布光度计结构简单,相对成本较低,其本身可以达到,但无论是白炽灯、荧光灯、金卤灯,还是其它光源,灯在转动过程中因受重力、灯自身运动加速度和周边空气的对流影响,会成被测光源发光的不同程度的波动,使测量度受到不同程度的影响。

3.测量项目包括:
灯具的空间光强分布曲线、光强数据、区域光通量、灯具效率、利用系数、亮度限制曲线、眩光等、概算曲线、zui大允许距离比、有效发光角、上射光通量、下射光通量、等照度曲线、等光强曲线等光度参数、以及电压、电流、率、率因数等电参数。

4.术文件格式:
1)*.GOS GO-R系列产品光度数据文件格式;
2)*.CIE CIE文件格式;
3)*.CEN CEN文件格式;
4)*.IES IESNA 北美标准格式;
5)*.Tm14 TM14 文件格式(英标准);
6)*.CIB CIBSE 文件格式;
7)*.EUT EULUMDAT 文件格式 (德标准)。

5.主要术标:
1)被测灯具可绕垂直轴和水平轴转动,转动范围:±180°
2)转动测角度 :0.1°
3)转角仪zui小分辨率 :0.001°
4)光度探头:CLASS L(f1'<1.5%)或 CLASS A(f1'<3%)
5)光度度 :标准(大大优于度)
、稳定机械结构,转动平稳,低噪声,旋转可由遥控器、转台控制器或计算机软件控制,智能化程度,操作简单。 灯具安装带双向激光对中,度,被测灯具波动自动补偿能,测试结果可直 接作为通用的照明设计软件的输入数据,符合CIE、IESNA等标准要求。

6.被测样品规格:
尺寸:1600mm;重量:50kg;率:3000W/10A,AC/DC。


北京恒奥德仪器仪表有限公司

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