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| 产品名称： | JH-DDC-II 上海 点腐蚀测试仪 |
| 产品型号： | JH-DDC-II |
| 品牌： | 84 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 面议 |
| 日期: | 2023-12-21 |
JH-DDC-II 上海 点腐蚀测试仪的详细资料
1. 点腐蚀测试仪型号：JH-DDC-II
点腐蚀测试仪是种把光学和电子线路相结合的测量仪器，其作 原理是采用显微聚集法，使坑表面及坑底面在显微镜视场中两次清晰成像 ，将焦距的变化通过变送器转为电量变化，由数字直接显示出坑深值。
点腐蚀测试仪型号：JH-DDC-II
１、深度测量范围：0-5mm；
２、误差：量程内测量误差小于0.2mm；
３、电压：220±10﹪；直流9.6-11V；
４、率：小于10W。
2.导电型号测试仪 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-3
KDK-STY—3型导电型号测试仪是严格按照标GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半导体村料导电类型的标准测试方法）中的热探针及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。
本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在50?60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）及检流计示型号方向。仪器灵敏度分、低两档，可判别大分非本征半导体材料型号（从阻单晶到重掺单晶）。
二、术性能
1、可判别锗、硅著料的电阻率范围：
锗：非本征锗103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
经外实验证明：在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶整流法结果。
2、锗、硅单晶直径及长度：不受限制
3、显示方式：由显示N和P的液晶器件直接示，同时中心刻度为零位检流计也在示型号，针向左偏转被测样品为N型，针向右偏转被测样品为P型。
5、探针：用ASTM F42标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在50?60℃范围内，冷笔与室温相同。整流法行选用硬质合金作探针。
6、电源及耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，zui大耗（热笔加热状态）小于40W，平均耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：约 4 kg
3.导电型号测试仪 导电型号检测仪 型号：KDK-STY-2
本仪器运用了四代集成电路设计、生产。仪器采用热电法测量硅单晶型号，配置了可自动恒温的热探笔，并由液晶器件直接发显示N、P型。
对于电阻率小于1000Ω.cm的硅片、块都可以地鉴定出导电型号。
使用方法：
1、插好背板上的电源线，并与～220V插座相接；将热笔、冷笔与面板上4芯、3芯插座相接。
2、打开仪器面板左下角的电源开关，电源示灯及热笔加热灯亮。10分钟左右热笔达到作温度时，保温（绿）灯亮，即可行型号测量。热探笔随后自动入保温→加热→保温→…循环，温度保持在40-60℃（标及标准规定的温度）。
3、将热笔在被测单晶面上放稳，后将冷笔点压在单晶上，液晶显示器即显示型号（N或P）。
4、测量电阻率较的单晶时，请将N型调零电位器P型调零电位器调近临界点（逆时针旋转），以便提仪器的测量灵敏度。
5、在P型、N型显示不稳定时，以多次能重复的测量结果为准。
6、测量时握笔的手不要与被测单晶接触，以免人体感应影响测量结果。